Makhov V.E.

Макет для разработки программно-алгоритмического комплекса контроля объектов космического пространства

Title: 
Layout for the Development of Software and Algorithmic Complex Control Objects Outer Space
Год/Year: 
2019
Начальная страница/First page: 
75
Краткое описание: 
Разработаны компактный экспериментальный стенд и методика исследования характеристик объектов космического пространства на базе оптико-электронной системы. Макет спутника имеет роботизированную систему управления ориентации в пространстве, оптико-электронная система (ОЭС) регистрации изображения размещена на дистанционно управляемой подвижной платформе, обеспечивающей взаимную ориентацию регистрируемого макета спутника и ОЭС. На базе компьютерных технологий фирмы National Instruments разработана методика построения основных алгоритмов определения геометрических и динамических характеристик объектов наблюдаемого ОЭС космического пространства.
Short description: 
A compact experimental stand and a technique for studying the characteristics of objects in outer space based on an optical-electronic system have been developed. The satellite model has a robotic orientation control system in space; an optical-electronic system (OES) image registration is placed on a remotely controlled mobile platform, ensuring the mutual orientation of the registered satellite and OES mockup. Based on the computer technologies of National Instruments, a method has been developed for constructing the basic algorithms for determining the geometric and dynamic characteristics of objects observed in OES of outer space.

Методика построения диагностики состояния оптико-электронных систем

Title: 
Methods of diagnosis of state building optoelectronics systems
Год/Year: 
2018
Начальная страница/First page: 
65
Краткое описание: 
Рассмотрены вопросы диагностики технического состояния оптико-электронной системы (ОЭС). Разработана методика определения основных параметров состояния ОЭС на базе применения различных измерительных алгоритмов анализа получаемого ее оптического изображения. На базе алгоритмов анализа кривых коэффициентов непрерывного вейвлет-преобразования распределения освещенности в линиях профилях контраста изображения показаны новые возможности диагностики состояния ОЭС, такие как расфокусировка и несоосность угла визирования оптической оси системы на наблюдаемый объект.
Short description: 
The problems of diagnostics of the technical state of the optoelectronic system (OES) are considered. A methodology for determining the main parameters of the state of the OES based on the application of various measurement algorithms for analyzing its optical image is developed. On the basis of algorithms for analyzing the coefficients of continuous wavelet transformation of light distribution in lines of image contrast profiles, new possibilities for diagnosing OES state are shown, such as defocusing and misalignment of the viewing angle of the optical axis of the system to the observed object.
Subscribe to RSS - Makhov V.E.